测样服务
凌光红外测样服务核心目的为协助客户送样评估设备性能、验证失效分析方案可行性,精准破解芯片与电子器件电性失效定位难题。
我们的测试方法
制冷锁相红外显微镜
先将待测元器件固定于电动载台并完成电性接线,设置周期性调制电压或电流作为激励信号。设备搭载深度制冷红外探测器采集器件热辐射信号,依托数字锁相算法滤除环境背景噪声,同步采集多帧红外图像。软件对图像做提取,生成幅值、相位热成像图,叠加实物光学视图锁定样品热点。
微光显微镜
通过制冷型InGaAs探测器开展检测,将待测器件固定于电动载台并施加稳定电激励,使漏电缺陷辐射近红外光子。设备捕捉微弱光信号,借助降噪算法剔除环境杂光干扰,同步采集光学实景与微光成像画面并叠加比对。软件甄别异常发光点位,锁定短路、击穿等故障区域,还可搭配动态调制模式捕捉发光信号,适配芯片、功率器件等试样的失效定位。
激光诱导电阻变化显微镜
依托OBIRCH技术开展检测,先将待测芯片固定于电动载台并接入偏置电路,调试适宜的红外激光功率匀速扫描器件表层。激光局部升温致使缺陷处电阻产生波动,设备实时捕捉电流变化信号,过滤环境杂讯干扰。系统同步叠加光学实景图与电性异常成像,精准标记断路、金属空洞等故障点位。